Hatef Madani

Associate Professor

Anna Ericson Öberg

Ph.D. Manufacturing technology

Richard Lindqvist

Tekn. Lic.

• 3D geometrimätning
• Dataanalys
• Digital fabrik
• Digital teknik
• Digitalisering
• Implementationsosäkerhet
• In-Line mätningar
• Integrerade system och system-av-system
• Metodosäkerhet
• Metrologi
• Modelldriven mätning
• Mätosäkerhet
• Stora objekt

Tord Cedell

Adjungerad professor, Docent

Hao Wang

Ph.D. Student at Chalmers